安規測試儀|絕緣耐壓測試儀

脈衝線圈測試儀 ST4030A

脈衝線圈測試儀 ST4030A

通過回應波形的定量化,能在裝有轉子的成品狀態下進行檢查

- 能檢測到過往難以檢測的不良現象
- 高精度的檢測波形(高速採樣200MHz×高解析度12bit)
- 單匝線圈檢測(回應波形的定量化)
- 通過檢測隱藏在雜訊中的“微弱的部分放電”,掌握馬達線圈之間的絕緣不良情況(微短路)。(選件)
詳細介紹

HIOKI 脈衝線圈測試儀 ST4030A

 

高精度的檢測波形(高速採樣200MHz×高解析度12bit)


   

如何設定LCRC有效判定範圍 ST4030A

 

 

介紹影片

脈衝線圈測試儀ST4030A在測量線圈時從響應波形中識別LC和RC特性。因為可以定量地處理電路常數值,所以使用者可以基於數值數據清楚地定義閾值,以確定線圈的通過/失敗條件。另外,因為測試結果是數值所以可以在統計上進一步利用數據作為質量控制的方法。每個故障的累積數據可以反饋到上游過程,以預測可能導致不合規繞組的條件,並有助於防止未來的缺陷。

HIOKI 脈衝線圈測試儀 ST4030A

高精度波形檢測

可以以高精度檢測響應波形的輕微變化,這使得難以區分良品和不良品的線圈之間的差異。200MHz高速採樣以非凡的細節捕捉瞬間變化,12位高分辨率提供了波形之間的明顯差異。


可檢測出過往難以判斷的少圈數的短路 

到目前為止難以判斷的少圈數短路,透過響應波型的數值化可以判定良否。LC・RC値的話,良品與不良品的分布會有所不同所以判定的標準非常明確。
 

HIOKI 脈衝線圈測試儀 ST4030A

HIOKI 脈衝線圈測試儀 ST4030A

可以在裝有轉子的狀態下進行測試

一旦轉子連接到電機的定子,轉子和定子之間的雜散電容將根據轉子所連接的位置而變化。因此在脈衝測試中所得到的響應波形也會有所變化,就無法使用過往的波形比較方式進行判定。
雖然響應波形的LC・RC値也會因為響應波形的變化而有所改變,但良品與不良品的分布是不同的。只要在ST4030A中製作出良品與不良品的判定區域,就可以在裝有轉子的狀態下進行脈衝測試。

脈衝線圈測試儀ST4030A的使用方法

脈衝線圈測試儀ST4030A可以檢測馬達中的電感零件(線圈)等之中發生的線圈繞組間的微短路。
向良品施加脈衝電壓時所產生的主波形為基礎,將「主波型」與「測試波形」的面積比較並判斷良否。
HIOKI提出的馬達測量新解決方案,是依據「響應波型數值化」可以在少圈數線圈中檢出短路,並透過比較良品與不良品之波型分布範圍的不同來檢測良否。

 

 

HIOKI 脈衝線圈測試儀 ST4030A 產品規格


 

基本參數(精度保證時間1年,調整後精度保證時間1年)

測試專案 ●將施加在脈衝電壓上所獲得的回應波形定量化(LC·RC值),並判斷合格與否
●AREA值,Fulutter,Laplacian等判斷波形
●絕緣擊穿電壓測試功能
施加電壓 100V~4200V(設置解析度:10 V步)
最大施加能量: 約55 mJ
可測試的電感範圍 10 µH〜100 mH
採樣率 200 M/ 100 M/ 50 M/ 20 M/ 10 MHz, 解析度: 12 bit, 數據數: 1001〜8001點 (1000點步)
電壓檢測精度 [DC精度] ±5% of setting, [AC帶寬] 100 kHz:±1 dB
判定方法 LC·RC值判定,波形判定,放電判定(安裝ST9000時)
測試條件組數 255 ( 測試條件設置、判定條件設置、標準波形)
測試時間 約60ms (3000V、1 脈衝、判定OFF 時的參考值)
顯示 顯示器:8.4 英寸SCGA 彩色TFT 液晶(800×600點),觸摸面板
介面 標配:EXT.I/O, USB主機 (記憶體), USB設備 (通訊用), LAN
選件: RS-232C (Z3001), GP-IB (Z3000)
電源 AC100 V〜240 V, 50 Hz/60 Hz, 80 VA max.
體積及重量 215W × 200H × 348D mm, 6.7 kg
附件 電源線×1,使用說明書×1,應用軟體光碟×1,使用注意事項×1