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    [GaN代測] 正式開放代測! 氮化鎵GaN元件靜態/動態及動態可靠度測試代測服務

    實現GaN氮化鎵元件等寬能隙半導體商業化的首要條件即是要確保元件的穩定與可用性，為此我們提供三套解決方案-封裝半導體元件動態參數分析儀、晶圓半導體元件動態參數分析儀與動態可靠度分析儀，並於2022年11月份正式開放提供代測服務，測試內容歡迎來信或來電洽詢！
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    加速GaN氮化鎵元件商業化的秘密武器-封裝/晶圓半導體元件動態參數分析儀與可靠度分析儀

    實現GaN氮化鎵元件商業化的首要條件即是要確保元件的穩定與可用性，為此我們提供三套解決方案-封裝半導體元件動態參數分析儀、晶圓半導體元件動態參數分析儀與動態可靠度分析儀
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    堉宸科技網站上線囉！

    氮化鎵 (GaN) 等全新功率半導體材料能夠支援大電壓和高切換速度，面對高功率元件高壓、高流的測試要求，堉宸科技獨家「元件動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer)」，來解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難，提供晶圓和封裝元件動態參數分析及可靠度測試。
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    如何在功率半導體/寬能隙半導體材料-氮化鎵(GaN)操作(switching)狀態下執行動態測試？

    本文要跟您分享我們的氮化鎵(GaN)動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer) 以及元件動態可靠度分析儀(Device Dynamic Reliability Analyzer)！
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