半導體分析儀

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    WPDDA6505 Wafer Probing Device Dynamics Analyzer.jpg

    WPDDA6505 晶圓探測動態分析儀

    業界首創!Wafer-level GaN HV+HP動態量測, 執行有效率的晶圓上量測
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    DSA1010-半導體靜態參數分析儀.jpg

    DSA1010 半導體靜態參數分析儀

    除了動態參數分析儀之外,我們也推出半導體靜態參數分析儀。DSA1010半導體靜態參數分析儀可幫助元件開發者改善元件,並可幫助元件使用者正確評估元件的功率損耗及老化速率。有別於其他功率元件分析儀,DSA1010具備友善的操作介面,無須編寫程式即可達到直觀的使用效果、能夠同時量測並自動調整 I-V & C-V,在SMU及CMU模式自動切換,且能具備彈性化待測物接口的特色。
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    DDA8010-GaN-Device-Dynamics-Analyzer

    DDA8010氮化鎵GaN元件動態參數分析儀

    堉宸科技提供的元件動態參數分析儀有效解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難
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    DDRA8010 元件動態可靠度分析儀

    可以同時測試多個GaN元件的動態特性,顛覆傳統的單顆GaN DUT動態參數分析,進而達到同時多個GaN元件在操作(swtiching)下的動態量測的效果。