產品介紹

高頻測量3GHz，對應6種尺寸的SMD

- IM7580系列專用SMD測試治具
- 2種設備指南，可對應6種尺寸的SMD
- 對應SMD尺寸※1 0603, 1005, 1608, 2012, 3216, 3225
※1：JIS單位mm，相當於EIA0201～EIA1210尺寸

*IM7580系列上使用測試治具IM9201時，需要另售的測試治具臺IM9200和適配器（3.5mm-7mm）IM9906。測試治具和適配器的組合請諮詢各據點。
產品照片為和另售的測試治具台IM9200、適配器IM9906一起組裝時的狀態。*

支援多種形狀和尺寸的電子元件

- IM7580系列專用SMD測試夾具
- 測試頻率600MHz
- 適用於各種形狀和尺寸的元件，可進行高頻阻抗測量
- 可測元件尺寸：帶引腳的元件、SMD（貼片元件）
- IM9202無法單獨使用。請與IM9906、IM9200搭配進行使用。

*產品照片為和另售的測試治具台IM9200、適配器IM9906一起組裝時的狀態。*

世界首創 以4端子方式高精度測量0402尺寸(EIA: 01005)SMD

- HIOKI 微加工技術打造的SMD定位構造
輕鬆準確地定位小型 SMD
- HIOKI 微探針技術，高精度4端子測量
透過在小型 SMD 上放置4個探針，實現穩定的4端子測量

簡易、確實，對應0201(相當於EIA008004)尺寸的LCR測量

- 可輕鬆的設置被測物，具備開/關門可防止被測物彈跳
- 藉由高接觸技術探測0201尺寸（相當於EIA008004尺寸）的SMD，實現高重現性的測量

可牢固地夾住 0603 (EIA) 尺寸的小型芯片/晶片零件的新形狀

- 易用性：可牢固地夾住的形狀
- 不易損壞：強度提升
- 維護：前端探針可更換

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

- 高速測量2ms
- 能根據C 和D （損耗係數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
- 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
- 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試
- 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
- 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

*輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件*

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

- 高速測量2ms
- 能根據C 和D （損耗係數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
- 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
- 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試
- 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
- 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

*輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件*

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

- 高速測量2ms
- 能根據C 和D （損耗係數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
- 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
- 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試
- 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
- 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

*輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件*

對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試

- 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
- 提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度
- 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量
- 根據BIN的測定區分容量

*輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件。 ※RS-232C用連接線可以使用支持網路連接的市面上銷售的交叉線。RS-232C連接線9637除硬體流控制之外的情況下可以使用。*

簡化迴路分析 & 細化PASS/FAIL判定

- IM9000可以從5個標準模型中自動選定等效回路模型，減小測量值和由分析結果得到的理想頻率特徵之間的差異。
- 可以對由一個部件和諧振銳度（機械品質因數）組成的L,C,R元件做PASS/FAIL判定。
- 可以對使用壓電元件諧振或電感的元件做詳細的判定。

*等效迴路分析軟體IM9000是阻抗分析儀IM3570的一個選件功能。
IM9000不包括在標準配置中。若有需求的客戶請在下訂時備註。
已購買阻抗分析儀IM3570的客戶可以再加上等效迴路分析軟體IM9000功能。*

- 最快0.5ms，高速、高穩定測量，節省空間的半個機架大小
- 測量頻率1MHz~300MHz
- 測量時間：最快0.5ms(類比測量時間)
- 基本精度±0.72%rdg.
- 測量方式 : RF I-V法
- 小巧主機，僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
- 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
- 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

高速、高穩定性測量，提高生產量！測量時間：最快0.5ms

- 測量頻率：1MHz~600MHz
- 測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）
- 基本精度：±0.65% rdg.
- 測量方式 : RF I-V法
- 小巧主機，僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小
- 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
- 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

*主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀專用的測試治具。*