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[GaN代測] 正式開放代測! 氮化鎵GaN元件靜態/動態及動態可靠度測試代測服務
實現GaN氮化鎵元件等寬能隙半導體商業化的首要條件即是要確保元件的穩定與可用性，為此我們提供三套解決方案-封裝半導體元件動態參數分析儀、晶圓半導體元件動態參數分析儀與動態可靠度分析儀，並於2022年11月份正式開放提供代測服務，測試內容歡迎來信或來電洽詢！
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加速GaN氮化鎵元件商業化的秘密武器-封裝/晶圓半導體元件動態參數分析儀與可靠度分析儀
實現GaN氮化鎵元件商業化的首要條件即是要確保元件的穩定與可用性，為此我們提供三套解決方案-封裝半導體元件動態參數分析儀、晶圓半導體元件動態參數分析儀與動態可靠度分析儀
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堉宸科技網站上線囉！
氮化鎵 (GaN) 等全新功率半導體材料能夠支援大電壓和高切換速度，面對高功率元件高壓、高流的測試要求，堉宸科技獨家「元件動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer)」，來解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難，提供晶圓和封裝元件動態參數分析及可靠度測試。
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如何在功率半導體/寬能隙半導體材料-氮化鎵(GaN)操作(switching)狀態下執行動態測試？
本文要跟您分享我們的氮化鎵(GaN)動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer) 以及元件動態可靠度分析儀(Device Dynamic Reliability Analyzer)！
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DSA1010 半導體靜態參數分析儀
除了動態參數分析儀之外，我們也推出半導體靜態參數分析儀。DSA1010半導體靜態參數分析儀可幫助元件開發者改善元件，並可幫助元件使用者正確評估元件的功率損耗及老化速率。有別於其他功率元件分析儀，DSA1010具備友善的操作介面，無須編寫程式即可達到直觀的使用效果、能夠同時量測並自動調整 I-V & C-V，在SMU及CMU模式自動切換，且能具備彈性化待測物接口的特色。
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DDA8010氮化鎵GaN元件動態參數分析儀
堉宸科技提供的元件動態參數分析儀有效解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難
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DDRA8010 元件動態可靠度分析儀
可以同時測試多個GaN元件的動態特性，顛覆傳統的單顆GaN DUT動態參數分析，進而達到同時多個GaN元件在操作(swtiching)下的動態量測的效果。
SERVICES
服務項目
1.元件動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer)
2.半導體靜態參數分析儀(Device Statics Analyzer)
2.半導體靜態參數分析儀(Device Statics Analyzer)
3.晶圓探測動態分析儀(Wafer Probing Device Dynamics Analyzer)
2.元件動態可靠度分析儀(Device Dynamic Reliability Analyzer)
2.元件動態可靠度分析儀(Device Dynamic Reliability Analyzer)
氮化鎵元件代測服務
1. 動態量測基礎方案
2. 動態量測進階方案
2. 動態量測進階方案
3. 多元件可靠度動態量測基礎方案
4. 多元件可靠度動態量測進階方案
4. 多元件可靠度動態量測進階方案