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堉宸科技網站上線囉!
氮化鎵 (GaN) 等全新功率半導體材料能夠支援大電壓和高切換速度,面對高功率元件高壓、高流的測試要求,堉宸科技獨家販賣「元件動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer)」,來解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難,提供晶圓和封裝元件動態參數分析及可靠度測試。
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如何在功率半導體/寬能隙半導體材料-氮化鎵(GaN)操作(switching)狀態下執行動態測試?
本文要跟您分享我們的氮化鎵(GaN)動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer) 以及即將發行的元件動態可靠度分析儀(Device Dynamic Reliability Analyzer)!
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本公司專注於經營代理半導體設備、一般電子、網路、通訊、精密量測儀器設備之代理業務,主要產品為元件動態參數分析儀,可以幫助您有效解決在氮化鎵元件在操作狀態下執行動態參數分析的困難,同時也提供量測儀器維修校驗的服務。
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氮化鎵GaN元件動態參數分析儀
堉宸科技提供的元件動態參數分析儀有效解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難
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元件動態可靠度分析儀
可以同時測試多個GaN元件的動態特性,顛覆傳統的單顆GaN DUT動態參數分析,進而達到同時多個GaN元件在操作(swtiching)下的動態量測的效果。
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1.元件動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer)
2.元件動態可靠度分析儀(Device Dynamic Reliability Analyzer)

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