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氮化鎵 (GaN) 等全新功率半導體材料能夠支援大電壓和高切換速度，面對高功率元件高壓、高流的測試要求，堉宸科技獨家研發「元件動態參數分析儀(Device Dynamics Analyzer)」，來解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難，提供晶圓和封裝元件動態參數分析及可靠度測試。
by 堉宸科技股份有限公司- 關於堉宸科技獨家研發的元件動態參數分析儀 -
我們將解決元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難
氮化鎵GaN元件動態參數分析儀
Device Dynamics Analyzer
■ 可以在hard-switching 或 soft-switching下執行動態量測
■ Dynamic Rdson(HSW, ZVS), Dynamic Rsdon(ZVS), Dynamic Vth, Dynamic Vsd, Dynamic HTOL (SALT)…
■ 提供On-Vg : -12~12V連續變化，可隨著不同DUT Gate Rating做適當調整
■ 提供10kHz~500kHz 可調操作頻率
■ 提供10%~90% 可調操作Duty
■ Pulse I-V 脈衝寬度可達到1us
■ 高低溫測試功能 (25C~175C)
