HIOKI DC耐壓絕緣電阻測試儀 ST5680
提升電池安全測試的檢查性能，以波形分析加速高品質化
專門用於DC耐壓測試的高規格機型
DC耐壓絕緣電阻測試儀ST5680提供高級的檢查品質。
符合各式各樣的國際標準，可支援所有DC耐壓測試。
利用波形和數值顯示證明電池的絕緣性能【波形顯示功能】
ST5680是可實施符合各種安全標準之DC耐壓測試和絕緣電阻測試的測量儀器。除了PASS/FAIL的合格判斷以外，也可以顯示、記錄測試時的輸出電壓波形和洩漏電流波形。將測試結果視覺化並分析，有助於提升檢查的可追溯性。
波形顯示輸出電壓與洩漏電流
可以波形監測確認輸出時的輸出電壓和洩漏電流的變化。
同時透過時序列確認電壓、洩漏電流、電阻的測量值。
無須使用電腦即可放大顯示波形，直接在作業現場進行詳細的分析。
波形顯示功能的優點
改善生產工序
透過分析檢查時的波形，可推測生產工序中的不良因素。確立其原因後改善生產工序，提升生產效率。
回收不良品的分析
可以透過波形準位追溯因有瑕疵而被回收的不良品，在出貨檢查時的結果。改善修正合格的判斷標準，進一步提升產品品質。
檢查品質的可靠性提升
波形的記錄管理有助於提升檢查的可追溯性。
透過構築高品質的檢查體制，提升出貨前驗收的可靠性。
預防因電弧放電而發生微小故障的瑕疵品流出【電弧放電檢測功能】
可檢測因毛刺或切屑等造成的電弧放電。
將引起微小絕緣不良的物品判斷為微小故障品，有助於防止出貨後發熱引起的火災事故和故障等風險。
防止誤判斷而導致的複測【接觸檢查功能】
透過測量測試端子間的電容（寄生電容、被測物的電容），可以判斷檢測物件是否正確接觸。
防止將不良品誤判斷為合格品
・測試過程中測試線脫落時
・測試部分之間的電阻增加時
例：測試線劣化、治具和高壓繼電器劣化等
可輕鬆的使用
・2端子之間可進行簡單配線
用於電池、馬達、電子元件等耐電壓測試
ST5680是對被測對象輸出高電壓，檢測其絕緣性能的測量儀器。
針對電子設備、電子元件、材料等，可測試從研究開發到生產線等各種對象的安全性。電池生產中，用於模組封裝、電芯電極和外殼間的耐電壓測試。
輸出電壓Max.8 kV、輸出電流Max.20 mA
搭載了測量被測物的洩漏電流以評估絕緣性能的DC耐電壓測試模式，以及測量電阻值以評估絕緣性能的電阻測試模式。
DC耐電壓測試可輸出至世界最高等級8 kV。
即使被測對象含電容成分，也能以20 mA的大容量輸出將被測對象高速充電，縮短檢查的節拍時間。
可忽略電容成分進行測試
即使被測對象含電容成分，由於不易發生過衝（Overshoot）的設計，不會對其輸出設置電壓以上的電壓，可安心進行測試。
另外，透過設置延遲時間的組合，無須判斷充電電流流動的時間，可避免誤判斷。
可測量的最大靜電容量值為200nF（若要測量更大的電容值，所需的測量時間可能更長、數據值更不穩定。）
最高解析度0.001 μA 的高精度判斷
隨著電池和馬達的絕緣性能提升，在耐電壓測試中，要求測量微小電流以判斷產品是否合格的能力，越來越嚴格。
如果使用了解析度較低的耐壓測試儀，便無法準確的測出洩漏電流的數值。
ST5680實現了最小解析度0.001μA的高精度，能準確測量微小洩漏電流，判斷是否合格。
搭載了BDV（絕緣崩潰電壓）測量功能
搭載了可確認被測對象的絕緣崩潰電壓之BDV（Break Down Voltage）功能。
以一定的速度提升外加電壓，確認達到絕緣崩潰時的電壓值。
測試方法依循標準規格，可進行急速升壓測試和階梯式升壓測試。
使用ST5680，兩種測試皆可實施。可用於電池研究開發時的絕緣性能能（絕緣耐力評估）。
HIOKI DC耐壓絕緣電阻測試儀 ST5680 產品規格
基本參數 （精度保證期間1年）
| 主功能 | DC耐電壓測試，絕緣電阻測試，絕緣崩潰電壓測試，波形顯示功能，ARC放電檢測功能，接觸檢查功能 (詳細資訊請參照「各項測試、功能」表) |
|---|---|
| 功能一覧 | 互鎖，自動放電，偏移消除，測量速度變更，瞬間輸出，指令監控，I/O HANDLER 測試，按鍵鎖定，自我檢查，校正期限檢查，EXT SW (遠端遙控) |
| 可用溫溼度範圍 |
0℃ ～ 40℃，80% RH 以下（無結露） |
| 適用標準 | 安全性：IEC 61010 EMC：IEC 61326 |
| 電源電壓 | AC 100 V ～ 240 V |
| 消耗功率 | 約180 VA ※電源條件為電源電壓220 V、電源頻率50 Hz/60 Hz、測試模式DC耐壓測試、測試電壓2.5 kV、負載電流5 mA（負載電阻500 kΩ）時。 |
| 介面 | 通訊：USB，LAN，EXT. I/O 選件：RS-232C (Z3001)，GP-IB (Z3000) 存儲：USB 存儲 |
| 尺寸、重量 | 約 305(W) × 142(H) × 430（D）mm（不含突起物），約10 kg |
| 附件 | 電源線 ×1，CD-ROM ×1 (PDF：使用說明書，通訊使用說明書)，EXT. I/O 用公接頭×1，EXT. I/O 用插頭蓋×1，EXT. I/O 用互鎖解除夾具×1，參考指南×1 |
各項測試、功能
| DC 耐電壓測試 | 輸出電壓：DC 0.010 kV ～ 8.000 kV（1 V 解析度） 輸出設置精度：± (1.2% of setting + 20 V) 輸出電流/截止電流：20 mA max 電流精度(*1)：3.00 mA <：± (1.5% rdg. + 2 μA)，≦ 3.00 mA：±1.5% rdg. 最小解析度：0.001 μA 測試時間：0.1 s ～ 999 s，Continue (Timer OFF) 電壓上升/ 下降時間：0.1 s ～ 300 s / 0.1 s ～ 300 s，OFF 短路電流：200 mA 以下 測試模式：W → IR，IR → W，程式測試 |
|---|---|
| 絕緣電阻測試 |
輸出電壓：DC 10 V ～ 2000 V (1 V 解析度) |
| 絕緣崩潰電壓測試 |
測試方式：急速升壓測試，階梯式升壓測試 |
| 波形顯示功能 | 波形顯示內容：電壓，電流，絕緣電阻 採樣速度：500 kS/s 記憶容量：512 K words |
| ARC(電弧)放電檢測功能 | 檢測方式：監視測試電壓的變動 設置內容：測試電壓變動率 1％ ～ 50％ |
|
接觸檢查功能 |
檢測方式：電容測量方式 |
| 存儲功能 |
・波形、圖表保存 ・面板保存功能 ・數據存儲功能 |
| 判斷功能(判斷輸出) | PASS 判斷，FAIL 判斷 (UPPER FAIL，LOWER FAIL) UPPER_FAIL：測量值 > 上限值 PASS：上限值 ≧ 測量值 ≧ 下限值 LOWER_FAIL：測量值 < 下限值 |
| 備註(*1) | ・周圍溫度t若在5℃以下，加算±(1% rdg.×(5-t)) ・周圍溫度t若超過35℃，加算±(1% rdg.×(t-35)) |
絕緣電阻測量精度(*2) （精度保證測試電壓範圍: 50 V ～ 2000 V）
| 測量範圍 |
100 kΩ ～ 99.99 GΩ |
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|---|---|---|
| 10 nA ≦ I ≦ 3 μA | 100 MΩ ～ 999.9 MΩ 1.00 GΩ ～ 99.99 GΩ |
±(20% rdg.) |
| 100 nA ≦ I ≦ 30 μA | 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ 100.0 MΩ ～ 999.9 MΩ |
±(5% rdg.) |
| 1 μA ≦ I ≦ 300 μA | 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ 10.00 MΩ ～ 99.99 MΩ |
±(2% rdg. + 5 dgt.) |
| 10 μA ≦ I ≦ 3 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ 1.000 MΩ ～ 9.999 MΩ |
±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 100 μA ≦ I ≦ 30 mA | 100.0 kΩ ～ 999.9 kΩ | ±(1.5% rdg. +3 dgt.) |
| 備註(*2) | ・測試電壓在50 V ～ 99 V 時，測量精度加算±10% ・測試電壓在100 V ～ 999 V時，測量精度加算±5% ・測試電壓在1000 V ～ 2000 V時，測量精度加算±2% ・周圍溫度t若在5℃以下，測量電流I<100nA時：加算±(5% rdg.×(5-t))；測量電流I≧100nA時：加算±(1% rdg.×(5-t)) ・周圍溫度t若超過35℃，測量電流I<100nA時：加算±(5% rdg.×(t-35))；測量電流I≧100nA時：加算±(1% rdg.×(t-35)) ・測量速度為FAST2時，測量精度為2倍 |
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