本區塊專注於 GaN/SiC 三代半導體動態參數量測 與 電動車 (EV) 功率分析 的技術解答。透過 HIOKI 高頻儀器與自主研發分析儀,我們為研發工程師提供精準的馬達測試、電能品質監測及 EMI 干擾解決方案,確保實驗數據的權威性。