產品介紹

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

- 高速測量2ms
- 能根據C 和D （損耗係數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
- 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
- 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試
- 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
- 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

*輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件*

封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等

- 高速測量2ms
- 能根據C 和D （損耗係數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
- 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
- 3504-60/-50用BIN的分選介面進行被測物體的測試
- 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
- 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率

*輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件*

對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試

- 模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
- 提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度
- 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量
- 根據BIN的測定區分容量

*輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件。 ※RS-232C用連接線可以使用支持網路連接的市面上銷售的交叉線。RS-232C連接線9637除硬體流控制之外的情況下可以使用。*

簡化迴路分析 & 細化PASS/FAIL判定

- IM9000可以從5個標準模型中自動選定等效回路模型，減小測量值和由分析結果得到的理想頻率特徵之間的差異。
- 可以對由一個部件和諧振銳度（機械品質因數）組成的L,C,R元件做PASS/FAIL判定。
- 可以對使用壓電元件諧振或電感的元件做詳細的判定。

*等效迴路分析軟體IM9000是阻抗分析儀IM3570的一個選件功能。
IM9000不包括在標準配置中。若有需求的客戶請在下訂時備註。
已購買阻抗分析儀IM3570的客戶可以再加上等效迴路分析軟體IM9000功能。*

- 最快0.5ms，高速、高穩定測量，節省空間的半個機架大小
- 測量頻率1MHz~300MHz
- 測量時間：最快0.5ms(類比測量時間)
- 基本精度±0.72%rdg.
- 測量方式 : RF I-V法
- 小巧主機，僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
- 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
- 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

高速、高穩定性測量，提高生產量！測量時間：最快0.5ms

- 測量頻率：1MHz~600MHz
- 測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）
- 基本精度：±0.65% rdg.
- 測量方式 : RF I-V法
- 小巧主機，僅機架一半大小，測試頭僅手掌大小
- 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
- 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

*主機不帶測試治具。需要使用阻抗分析儀專用的測試治具。*

- 最快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻
- 測量頻率1MHz~300MHz
- 測量時間：最快0.5ms
- 基本精度±0.72%rdg.
- 測量方式 : RF I-V法
- 小巧主機，僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小
- 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
- 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

高速、高穩定性測量，提高生產量！測量時間：最快0.5ms，測量值偏差0.07%

- 測量頻率：1MHz~1.3GHz
- 測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）
- 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）
- 基本精度：±0.65% rdg.
- 測量方式 : RF I-V法
- 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小
- 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
- 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

適用射頻元件、天線模組等高頻阻抗分析，小巧主機搭配手掌大測試頭，支援多種接觸檢查與自動掃描測試

- 可信賴的機型3GHz
- 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz
- 測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）
- 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值）
- 基本精度：±0.65% rdg.
- 測量方式 : RF I-V法
- 小巧主機，僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小
- 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
- 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進行測量

DC，4Hz~8MHz測量頻率

- 測量頻率DC，4Hz~8MHz
- 測量時間：最快1ms
- 基本精度：±0.05% rdg
- 1mΩ以上的精度保證範圍，也可安心進行低阻測量
- 可內部發生DC偏壓測量
- 從研發到生產線皆可活用在各種領域中

一台儀器實現不同測量條件下的高速檢查
- 一台儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
- LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
- 基本精度±0.08%的高精度測量
- 適用於壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
- 分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
- 可以用於無線充電評價系統TS2400

用於測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC(電氣雙層電容)
- 適用於離子運動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬範圍信號源
- 一台機器即可實現LCR測量、掃描測量的連續測量和高速檢查
- 可測量電池的無負載狀態產生的內部電阻
- 最快2ms的高速測量，實現掃描測量的高速化
- 基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發測量均可對應
- 適用於Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學零件和材料的電阻(LCR)測量