堉宸科技提供橫跨研發、品管至產線測試的完整設備矩陣，代理 HIOKI、Action Power、Acute 等國際領導品牌儀器。
我們自主研發針對 GaN/SiC 三代半導體 的動態參數分析系統，為電力分析與高頻功率元件測試提供高精度與高穩定性的技術解決方案。
◈ 三代半導體動態分析儀 ◈ HIOKI 功率分析儀與阻抗計 ◈ 高精準度雙向電源系統 ◈ 虛擬儀器與邏輯分析儀
全部量測設備
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電壓・溫度模組 U8552電壓・溫度模組 U8552
高速、多通道的熱敏電阻溫度測量
- 溫度(熱敏電阻)與電阻測量
- 不管是哪一種熱敏電阻都能自動設定並轉換溫度
- 15通道，最快50ms的取樣
- 最高200kΩ的熱敏電阻與電阻測量 -
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無線熱敏電阻模組 LR8537無線熱敏電阻模組 LR8537
使用熱敏電阻實現多點溫度測量
- 溫度(熱敏電阻)與電阻測量
- 不管是哪一種熱敏電阻都能自動設定並轉換溫度
- 15通道，最快50ms的取樣
- 最高200kΩ的熱敏電阻與電阻測量
- LR8450-01與測量模組無線化，無障礙可達30m -
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熱敏電阻模組 U8557熱敏電阻模組 U8557
高速、多通道的熱敏電阻溫度測量
- 溫度(熱敏電阻)與電阻測量
- 不管是哪一種熱敏電阻都能自動設定並轉換溫度
- 15通道，最快50ms的取樣
- 最高200kΩ的熱敏電阻與電阻測量 -
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LR8450 DATA LOGGER(資料收集器)LR8450 DATA LOGGER(資料收集器)
多通道資料擷取器推薦
- 非無線機型 /直接連接輸入模組擴展高達 120ch （LR8450）
- 壓力等各種感測器的輸出電壓能以1ms速度測量
- 直接連接應變片，最快的 1ms 取樣測量
- 在高壓和高頻週邊（如變頻器）進行穩定測量，顯著降低雜訊影響 -
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DSA1010 半導體靜態參數分析儀DSA1010 半導體靜態參數分析儀
除了動態參數分析儀之外，我們也推出半導體靜態參數分析儀。DSA1010半導體靜態參數分析儀可幫助元件開發者改善元件，並可幫助元件使用者正確評估元件的功率損耗及老化速率。有別於其他功率元件分析儀，DSA1010具備友善的操作介面，無須編寫程式即可達到直觀的使用效果、能夠同時量測並自動調整 I-V & C-V，在SMU及CMU模式自動切換，且能具備彈性化待測物接口的特色。 -
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DDA8010氮化鎵GaN元件動態參數分析儀DDA8010氮化鎵GaN元件動態參數分析儀
堉宸科技提供的元件動態參數分析儀有效解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難 -
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DDRA8010 元件動態可靠度分析儀DDRA8010 元件動態可靠度分析儀
可以同時測試多個GaN元件的動態特性，顛覆傳統的單顆GaN DUT動態參數分析，進而達到同時多個GaN元件在操作(swtiching)下的動態量測的效果。
