全部量測設備

堉宸科技提供橫跨研發、品管至產線測試的完整設備矩陣,代理 HIOKI、Action Power、Acute 等國際領導品牌儀器。

我們自主研發針對 GaN/SiC 三代半導體 的動態參數分析系統,為電力分析與高頻功率元件測試提供高精度與高穩定性的技術解決方案。

三代半導體動態分析儀 HIOKI 功率分析儀與阻抗計 高精準度雙向電源系統 虛擬儀器與邏輯分析儀
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    DDA8010-GaN-Device-Dynamics-Analyzer

    DDA8010氮化鎵GaN元件動態參數分析儀

    堉宸科技提供的元件動態參數分析儀有效解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難
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    DDRA8010-Device-Dynamic-Reliability-Analyzer-product.jpg

    DDRA8010 元件動態可靠度分析儀

    可以同時測試多個GaN元件的動態特性,顛覆傳統的單顆GaN DUT動態參數分析,進而達到同時多個GaN元件在操作(swtiching)下的動態量測的效果。